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LZ-990膜厚仪的原理及选择
发布时间:2020-11-18 点击量:105
   除了二维和三维坐标等精密测量仪器外,我们在测量薄膜厚度时经常使用一种仪器,即薄膜测厚仪。
  膜厚仪又叫膜厚计、膜厚测试仪,可分为磁感应涂层测厚仪、涡流涂层测厚仪和荧光X射线涂层测厚仪。其主要测量方法是采用磁感应原理时,利用从探头通过非铁磁性涂层流入铁磁性基体的磁通量来测量涂层厚度。也可以测量相应的磁阻来表示涂层厚度。磁性测厚仪是一种超小型测量仪器,可以快速、无损地喷涂在铁磁性金属基体上。镀层厚度的测量。可广泛应用于制造业、金属加工、化工、商检等检测领域。特别适合工程现场测量。二次荧光法测厚仪的原理是,物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收过剩能量而变得不稳定。要从不稳定状态回到稳定状态,这种物质必须释放出多余的能量,此时以荧光或光的形式释放出来。荧光X射线涂层测厚仪或成分分析仪的原理是测量释放荧光的能量和强度,用于定性和定量分析。测厚仪的选择取决于您测量的产品结构。如果只是简单的镀膜,铜箔可以用普通的膜厚仪解决。如果测量镀层的厚度并且有几个镀层,那么应该使用用薄膜测厚仪。如果单镀层厚度大于0.5um,也可以用金相方法观察。
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