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膜厚仪和涂层测厚仪有相同之处,也有不同之处!
发布时间:2021-05-14 点击量:28
   薄膜测厚仪根据脉冲反射原理测量厚度。当探头发出的脉冲通过被测物体到达材料界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量在材料中的传播时间可以确定被测材料的厚度。涂层测厚仪:涂层测厚仪包括涡流涂层测厚仪和磁性涂层测厚仪。涂层测厚仪在本站有两种工作原理,这里不再赘述。因此,使用磁性和涡流方法的测厚仪可以测量物体表面的涂层,它们都是通过表面探针测量物体的厚度,即薄膜测厚仪与涂层测厚仪在一定程度上是一致的。可事实上来说,膜厚仪与涂层测厚仪的区别还是很大的,它们的区别如下:
  1、膜厚仪探头需要使用合适的耦合剂,以及是适量的耦合剂;而涂层测厚仪探头在使用过程中是不需要使用耦合剂的。
  2、膜厚仪是使用对物体厚度进行测量,需要选择合适的声速;而涂层测厚仪不论是磁性法还是涡流法测厚仪都不需要选择声速。
  3、膜厚仪与涂层测厚仪的工作原理不同。
  4、膜厚仪在测量涂层厚度时,该涂层为单一化学组成的涂层(方便选择声速),而涂层测厚仪在测量涂层厚度时,需要注意基体性质(Fe和NFe基体),而且对涂层的电性质有一定的要求。
  5、膜厚仪的测量范围要比涂层测厚仪更广,涂层测厚仪的测量范围一般在0-1250μm之间。
  6、膜厚仪一般国内较少生产,且价格较高,而涂层测厚仪相对来说国内有很多厂家生产,且大多数价格较低。
  尽管膜厚仪与涂层测厚仪在测量物体涂层厚度时,都是使用探头测量、都对物体表面的粗糙度有一定的要求、都需要在测量之前进行仪器校准等等相同之处,但两者的本质和很多使用方法上还是有不同的。在进行物体涂层厚度的测量时,涂层测厚仪的使用显得更为简单,性价比也较高,能够满足大部分物体涂层厚度的测量,而且涂层测厚仪精度也较高,无论是操作还是校准速度都快。整体上来说,膜厚仪与涂层测厚仪有相同点也有很大的区别。
 
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